安規(guī)一般要求訓(xùn)練教材1專業(yè)課件

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4、tp:/,中國(guó)最大的免費(fèi)課件資源庫(kù),按一下以編輯母片,第二層,第三層,第四層,第五層,最新課件,*,制程安規(guī)要求,作業(yè)工法的要求,在設(shè)計(jì)完成后的生產(chǎn)制程中必須采用適當(dāng)?shù)淖鳂I(yè)方法以保証確定了的,安全距,離,和,絕緣強(qiáng)度,.,如,一,.,綁,:,綁束線,二,.,套,:,套套管,三,.,點(diǎn),:,點(diǎn)膠,四,.,繞,:,將線材纏繞,五,.,裝,:,裝,SPACER,六,.,貼,:,貼絕緣膠紙,(,片,),七,.,割,:,割,PCB,八,.,塞,:,將零件塞入,1,最新課件,制程安規(guī)要求,制程須注意事宜,1.IE,須依照,Part List,針對(duì)安規(guī)零部件於作業(yè)指導(dǎo)書,MOI SAFETY,欄中標(biāo)注,“,

5、SAFETY,”,字樣,.,2.INLET,上如果有焊接零部件,必須採(cǎi)用鉤焊的方式,.,3.,磁性零件如變壓器,PFC,電感以及一次側(cè)大電解電容如有掉落地須作報(bào)廢處理,.,4.,針對(duì)有絕緣膠紙之零部件或加工品,須有防呆措施,或取放時(shí)應(yīng)避免其受傷,.,5.,元件出,PCB,腳長(zhǎng)須按要求作相應(yīng)控制,以免破壞規(guī)定之安規(guī)距離與絕緣強(qiáng)度,.,6.,制程中須控制,PC,板上零部件傾斜不可影響規(guī)定之安規(guī)距離,.,7.,對(duì)於打彎腳插焊之零部件,其彎腳必須平齊,PC,板,順金道方向,且不可超出,PAD.,8.,線材如無(wú),HOOK,焊接于,PC,板時(shí)須點(diǎn)膠固定,.,2,最新課件,制程安規(guī)要求,制程須注意事宜,9.

6、,PC,板上保險(xiǎn)絲之,Fuse Rating,字樣不可被點(diǎn)膠或其他物體覆蓋而不可見,.,10.,PC,板上,“,CAUTION,”,字樣及其內(nèi)容不可被點(diǎn)膠或其他物體覆蓋而不可見,.,11.,如有安規(guī)符號(hào)印刷於,PC,板上,不可被點(diǎn)膠或其他物體覆蓋而不可見,.,12.,PC,板上安規(guī)作用的,“,空氣槽,”,不可被點(diǎn)膠或其他物體連接,.,13.,耐壓測(cè)試,(Hi-pot Test),及接地測(cè)試,(Grounding Test),之,MOI,須放置於測(cè)試區(qū)明,顯處,.,14.,每批產(chǎn)品須作,100%,的耐壓測(cè)試,(Hi-pot Test).,15.,產(chǎn)品須實(shí)施接地測(cè)試,(Grounding Test

7、),時(shí),其每批貨品均須作,100%,的接地測(cè)試,.,16.,安規(guī)測(cè)試用儀器須至少每一年校驗(yàn)一次,且須作好日常點(diǎn)檢及其記錄,.,3,最新課件,制程安規(guī)要求,制程須注意事宜,17.,安規(guī)測(cè)試之操作員必須接受相關(guān)的測(cè)試訓(xùn)練,且持有上崗証書,.,18.,安規(guī)測(cè)試站必須貼有,“,高壓危險(xiǎn),”,之警告牌,且測(cè)試員須熟記其內(nèi)容,.,19.,安規(guī)測(cè)試不良機(jī)臺(tái)須使用,“,安規(guī)測(cè)試不良標(biāo)示卡,”,進(jìn)行標(biāo)示,且不可直接送修,.,20.,須重作安規(guī)測(cè)試之機(jī)臺(tái),(,除另有程序管控,如重工流程之外,),必須先將機(jī)臺(tái)上,原,Hipot OK,標(biāo)簽或記號(hào)去掉,.,21.,安規(guī)測(cè)試參數(shù)之設(shè)定及步驟須與,MOI,一致,且,MOI

8、,須符合客戶及安規(guī)要求,.,22.,各檢測(cè)站檢出之不良機(jī)臺(tái)須按要求作不良標(biāo)示,且放置於指定區(qū)域,.,23.,成品檢驗(yàn)之狀態(tài)須作明確標(biāo)示,.,如 待驗(yàn)品,允收品,拒收品,.,4,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,定 義,(,Definition),1),安規(guī)測(cè)試,(,Safety Test),為確保使用者的安全,依照國(guó)家,(,際,),安規(guī)要求,進(jìn)行的測(cè)試,如,“,接地連續(xù)性測(cè),試,”,“,接地泄漏電流測(cè)試,”,以及,“,耐壓測(cè)試,”,等,.,2),接地連續(xù)性測(cè)試,(,Ground Continuity Test),從,Inlet PG,端上通過(guò)大電流至使用者可接觸的接地端,確保其阻值小於規(guī)格,值,達(dá)到接地

9、保護(hù)的功用,.,3),接地泄漏電流測(cè)試,(,Earth Leakage Current Test),通過(guò)一個(gè)被安規(guī)單位,(,UL,TUV,CSA,),認(rèn)可的,“,人體阻抗模擬電路,”,測(cè)量當(dāng)待測(cè)物,(,SPS),接通電源時(shí)在可觸到的金屬部件與地之間流經(jīng)人體的電流量,.,5,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,4),耐壓測(cè)試,(,Dielectric Withstand Voltage Test),又稱高電壓介電測(cè)試,即,Hi-pot(High Potential)Test,從一,二側(cè),(,或地,),之間,實(shí)施高電壓以確定內(nèi)部絕緣層有隔離危險(xiǎn)電壓的功用,.,5),絕緣擊穿,(,Insulation Brea

10、kdown),當(dāng)施於耐壓測(cè)試時(shí),其漏電流以失控的方式迅速增大,即絕緣無(wú)法限制電流時(shí),則認(rèn)為已發(fā)生絕緣擊穿,.,電暈放電或單次瞬間跳火不算絕緣擊穿,.,6),電弧,(,Arc),為一物理現(xiàn)象,通常是指兩端點(diǎn)之間,因距離不夠或介質(zhì)存在,而在通電時(shí)所產(chǎn),生的一個(gè)跳火現(xiàn)象,此跳火現(xiàn)象通常為非連續(xù)性的,.,6,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,7),高壓區(qū),(,Hi-Voltage Area),特指一次側(cè)對(duì)地和一次側(cè)對(duì)二次側(cè)間,Hi-pot,測(cè)試時(shí)產(chǎn)生高電壓的所有區(qū)域,.,8),高壓異物,(,Hi-Voltage Eyewinker),是指殘留於高壓區(qū)的導(dǎo)電物體,或明顯可見,(,如錫珠,錫渣,液體等,);,或微小

11、不,可見,.,7,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,測(cè)試電路與標(biāo)準(zhǔn),(,Circuit and Standard of Test,),1),接地連續(xù)性測(cè)試,(,Ground Continuity Test),A.SPS,接地連續(xù)性測(cè)試接線如下,INPUT,CH1,CH2,CH3,CH4,CH5,CH6,CH7,CH8,H.V.,test,output,OUTPUT,Grounding,test output,G-COM,CH1,CH2,CH3,CH4,L&N,FG,S.P.S(DUT),Tin Board/Chassis,H.V.,Adapter,Desktop,Tester:Extech 7440,8

12、,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,B.,標(biāo)準(zhǔn),B.1,輸入電流不大于,25,A(DC or AC),電壓不超過(guò),12,V,時(shí)間至少,3,秒,(,TUV,要求,).,B.2,測(cè)試結(jié)果,:,電阻值不得大于,100,m.,2),接地泄漏電流測(cè)試,(,Earth Leakage Current Test),A.,接地泄漏電流測(cè)試接線如下,9,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,B.,標(biāo)準(zhǔn),B.1,輸入電壓為額定電壓上限的,106%.,B.2,測(cè)試結(jié)果,:,ClassI,3.5mA;ClassII,0.25mA.,3),耐壓測(cè)試,(,Dielectric Withstand Voltage Test),A.,耐壓測(cè)試接線參

13、考,1),接地連續(xù)性測(cè)試,B.,標(biāo)準(zhǔn),B.1,輸入電壓為,“,表,18,”,所示,B.2,測(cè)試結(jié)果,:,不可有絕緣擊穿,(,Breakdown),現(xiàn)象,.,B.3,如果被測(cè)絕緣上跨接有電容器,則建議采用直流電壓測(cè)試,.(,DC=2 AC);,B.4,此時(shí),應(yīng)將與被測(cè)絕緣并聯(lián)提供直流通路的元件,(,如 放電電阻等,),斷幵,.,10,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,11,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,項(xiàng)目,交,流,(,AC),直,流,(,DC),交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品作正負(fù)極性的,測(cè)試,合乎實(shí)際使用狀況,.,直流測(cè)試可以很清楚地顯示出被測(cè)物實(shí),際的漏電電流,.,交流測(cè)試時(shí)不會(huì)有瞬間衝擊電流發(fā)生,測(cè),試電壓不需

14、緩慢上升,.,測(cè)試電流非常小,(,uA),儀器的電流容量,低于交流測(cè)試時(shí)所需的電流容量,.,交流測(cè)試時(shí)無(wú)法充飽那些雜散電容,測(cè)試,后無(wú)須對(duì)測(cè)試物作放電動(dòng)作,.,被測(cè)物的雜散電容量很大或?yàn)殡娙菪载?fù),載時(shí),測(cè)試所產(chǎn)生的電流會(huì)大於實(shí)際的漏,電電流,無(wú)法得知實(shí)際的漏電電流,.,測(cè)試電壓必須由,零,開始緩慢上升,以避,免充電電流過(guò)大,而引起儀器誤測(cè),.,儀器輸出的電流會(huì)比較大,(,mA),增加操,作人員的危險(xiǎn)性,.,由于直流測(cè)試會(huì)對(duì)被測(cè)物充電,測(cè)試后須,先對(duì)其放電方可作下一步工作,.,直流測(cè)試只能作單一極性測(cè)試,.,關(guān)聯(lián),優(yōu)點(diǎn),缺點(diǎn),直流,(,DC)=1.414*,交流,(,AC),1),耐壓測(cè)試交流與

15、直流之區(qū)別,測(cè)試常識(shí),(,Test Knowledge),12,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,V,0,T,Ramp Time,Dwell Time,T,Ramp Time,Dwell Time,0,I,2),直流耐壓測(cè)試,V-I,關(guān)系圖,13,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,3),絕緣擊穿,(,Breakdown),與電弧,(,Arc),之區(qū)別,絕緣擊穿,(,Breakdown),電弧,(,Arc),通過(guò)或者跨越絕緣系統(tǒng)的破壞性放電,.,電弧是在過(guò)量的泄漏電流流過(guò)時(shí)可能出,現(xiàn)也可能不出現(xiàn)的一種情況,.,往往發(fā)生,于同極之間,.,涉及產(chǎn)品安全性,為安規(guī)單位所管制,.,UL,等安規(guī)機(jī)構(gòu)規(guī)定電暈放電或間歇性,電弧

16、應(yīng)予不計(jì),.,但其會(huì)影響產(chǎn)品品質(zhì)及,信賴性,.,耐壓儀為低通偵測(cè),.,耐壓儀為高通偵測(cè),耐壓偵測(cè)時(shí),絕緣擊穿時(shí)所產(chǎn)生的電弧,(,Breakdown Arc),較電暈放電或間歇性,電弧,(,單純,Arc),不靈敏,.,14,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,4),誤 測(cè),(,N.D.F),定 義,:,其全稱為,“,No Defect Found,”,.,即,“,異常,”,確認(rèn)分析過(guò)程中不良現(xiàn)象不再,現(xiàn),且產(chǎn)品本身電性及外觀經(jīng)檢測(cè)均正常的現(xiàn)象,.,N.D.F,處理規(guī)定,:,經(jīng)分析確認(rèn)為,N.D.F,之機(jī)臺(tái),須視電性不良修理機(jī)一同下且送,OQC,全檢,.,15,最新課件,制程安規(guī)測(cè)試,N.D.F,產(chǎn)生之原因,1),接地連續(xù)性測(cè)試,(,Ground Continuity Test)-GND N.D.F,PHENOMENA,ANALYSIS of CAUSE,SOLUTION,Hi-Limit 100m,儀器接地測(cè)試接地阻抗補(bǔ)償,(,Offset),參數(shù)設(shè)定不,合理,.,可讓儀器作自動(dòng)補(bǔ)償,(,Offset);,也可依機(jī)臺(tái)及測(cè)試回路,狀況作手動(dòng)設(shè)定,Offset,但補(bǔ)償值須合理,不可過(guò)大,.(,一,般情況